SN74LVTH18646APMG4
部品番号：
SN74LVTH18646APMG4
製品分類：
特殊ロジック
製造業者：
Texas Instruments
説明：
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
パッケージ：
-
ROHS状態：
はい
通貨：
USD
仕様
- 動作温度 -40°C ~ 85°C
- 取付タイプ Surface Mount
- サプライヤーデバイスパッケージ 64-LQFP (10x10)
- パッケージ・ケース 64-LQFP
- ビット数 18
- Supply Voltage 2.7V ~ 3.6V
- Logic Type ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers