SNJ54BCT8373AFK
Número de pieza:
SNJ54BCT8373AFK
Clasificación de productos:
Lógica especializada
Fabricante:
Texas Instruments
Descripción:
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
Embalaje:
-
Estado de ROHS:
Sí
Moneda:
USD
PDF:
Documentación
Especificaciones
- Tipo de montaje Surface Mount
- Temperatura de funcionamiento -55°C ~ 125°C
- Número de bits 8
- Paquete / Estuche 28-CLCC
- Paquete de dispositivo del proveedor 28-LCCC (11.43x11.43)
- Supply Voltage 4.5V ~ 5.5V
- Logic Type Scan Test Device with D-Type Latches